通常情況下，《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志發表的文章被SCIE數據庫收錄的時間沒有固定標準，若想了解詳細、準確的具體情況，建議直接與雜志社取得聯系或者向在線客服進行咨詢。

多久能被SCI數據庫一般可以歸納出以下情況：

論文發表后到在線時間：SCI論文發表后，一般需要大約3個月的時間才能在期刊官網上線，這是論文初次對外公開的時間點。

在線后到數據庫檢索時間：論文在線后，通常還需要1-3個月的時間才能在Web of Science（WOS）數據庫中檢索到，這個過程被稱為論文的索引或收錄。

整體時間周期：從投稿到論文被SCI數據庫收錄，整個周期大概需要一年左右的時間。具體來說，投稿后可能需要5-6個月收到接收通知，然后經過2-3個月論文會在官網上線，再之后2-3個月論文會被WOS數據庫收錄。

然而，這個時間周期并不是絕對的，它受到多種因素的影響，如：期刊類型、論文質量、數據庫更新等。

《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志已被SCIE國際知名數據庫收錄，在JCR分區中位于ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC學科Q2區PHYSICS, APPLIED學科Q2區，在CiteScore評價中位于Engineering學科的Q2區Engineering學科的Q2區Engineering學科的Q2區具有較高的學術影響力，在該領域受到廣泛認可。

作為一本專注于工程技術 - 工程：電子與電氣領域的學術期刊，它致力于發表高質量的研究論文和為相關領域的研究人員提供重要的學術資源。

該雜志出版周期是Quarterly，平均審稿速度預計為： 較慢,6-12周 。

出版物的范圍包括但不限于以下方面的可靠性：設備、材料、工藝、接口、集成微系統（包括 MEMS 和傳感器）、晶體管、技術（CMOS、BiCMOS 等）、集成電路（IC、SSI、MSI、LSI、ULSI、ELSI 等）、薄膜晶體管應用。從概念階段到研發再到制造規模，在每個階段對這些實體的可靠性進行測量和理解，為成功將產品推向市場提供了設備、材料、工藝、封裝和其他必需品的可靠性的整體數據庫。這個可靠性數據庫是滿足客戶期望的優質產品的基礎。這樣開發的產品具有高可靠性。高質量將實現，因為產品弱點將被發現（根本原因分析）并在最終產品中設計出來。這個不斷提高可靠性和質量的過程將產生卓越的產品。歸根結底，可靠性和質量不是一回事；但從某種意義上說，我們可以做或必須做一切事情來保證產品在客戶條件下在現場成功運行。我們的目標是抓住這些進步。另一個目標是關注電子材料和設備可靠性的最新進展，并提供對影響可靠性的基本現象的基本理解。此外，該出版物還是可靠性跨學科研究的論壇。總體目標是提供前沿/最新信息，這些信息與可靠產品的創造至關重要。