《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志在中科院分區中的情況如下：大類學科：工程技術， 分區：3區； 小類學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣， 分區：3區。

中科院分區決定了SCI期刊在學術界的地位和影響力，對科研人員和學術機構具有重要的參考價值，具體如下：

對SCI期刊的評價：中科院分區通過將SCI期刊按照3年平均影響因子劃分為不同的等級，為科研人員和學術機構提供了一個評估SCI期刊學術影響力的重要依據。分區越高，說明該期刊在學科內的學術影響力越大，發表的文章質量越高。

對科研人員的成果評估：科研人員發表的論文所在的中科院分區，可以作為評估其研究成果質量的一個指標。

對科研資源的分配：中科院分區在科研資源分配方面也起到重要作用。科研機構在制定科研政策、分配科研資源時，會參考中科院分區。

對科研人員投稿的指導：中科院分區為科研人員選擇投稿期刊提供了參考。科研人員在選擇投稿期刊時，會參考中科院分區，以提高論文被接受的可能性，并增加研究成果的影響力。

《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志是一本專注于工程：電子與電氣領域的國際期刊，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.?出版，創刊于2001年，出版周期為Quarterly。

出版物的范圍包括但不限于以下方面的可靠性：設備、材料、工藝、接口、集成微系統（包括 MEMS 和傳感器）、晶體管、技術（CMOS、BiCMOS 等）、集成電路（IC、SSI、MSI、LSI、ULSI、ELSI 等）、薄膜晶體管應用。從概念階段到研發再到制造規模，在每個階段對這些實體的可靠性進行測量和理解，為成功將產品推向市場提供了設備、材料、工藝、封裝和其他必需品的可靠性的整體數據庫。這個可靠性數據庫是滿足客戶期望的優質產品的基礎。這樣開發的產品具有高可靠性。高質量將實現，因為產品弱點將被發現（根本原因分析）并在最終產品中設計出來。這個不斷提高可靠性和質量的過程將產生卓越的產品。歸根結底，可靠性和質量不是一回事；但從某種意義上說，我們可以做或必須做一切事情來保證產品在客戶條件下在現場成功運行。我們的目標是抓住這些進步。另一個目標是關注電子材料和設備可靠性的最新進展，并提供對影響可靠性的基本現象的基本理解。此外，該出版物還是可靠性跨學科研究的論壇。總體目標是提供前沿/最新信息，這些信息與可靠產品的創造至關重要。

《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志學術影響力具體如下：

在學術影響力方面，IF影響因子為2.5，顯示出其在工程：電子與電氣學領域的學術影響力和認可度。

JCR分區：Q2

按JIF指標學科分區，在學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q2，排名：165 / 352，百分位：53.3%；PHYSICS, APPLIED中為Q2，排名：87 / 179，百分位：51.7%；

按JCI指標學科分區，在學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q3，排名：186 / 354，百分位：47.6%；PHYSICS, APPLIED中為Q3，排名：99 / 179，百分位：44.97%；

《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志的審稿周期預計為：平均審稿速度 較慢,6-12周 ，投稿需滿足English撰寫，期刊注重原創性與學術嚴謹性，明確拒絕抄襲或一稿多投，Gold OA占比：24.52%，這使得更多的研究人員能夠免費獲取和引用這些高質量的研究成果。

該雜志其他關鍵數據：

CiteScore分區（數據版本：2024年最新版）：4.8，進一步證明了其學術貢獻和影響力。

H指數：63，年發文量：72篇

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