《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志是一本專注于工程技術(shù)領(lǐng)域的高質(zhì)量期刊，該雜志的錄用率受多種因素影響，想具體了解可聯(lián)系雜志社或咨詢在線客服。

《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志的錄用率受多種因素影響，具體如下：

年發(fā)文量：《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志年發(fā)文量為：72篇。年發(fā)文量較大的期刊，相對而言錄用率會高一些。

質(zhì)量與創(chuàng)新性：論文的科學性、嚴謹性、數(shù)據(jù)可靠性以及創(chuàng)新性是關(guān)鍵。

期刊分區(qū)：《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志在中科院的分區(qū)為3區(qū)，而在JCR的分區(qū)為Q2。

論文質(zhì)量：包括研究設(shè)計的合理性、數(shù)據(jù)的可靠性、分析方法的科學性等。

影響力與排名：《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志IF影響因子為：2.5。高影響力的期刊通常對論文質(zhì)量要求更高，錄用率相對較低。

審稿流程：嚴格的多輪審稿流程會篩選掉部分稿件，導(dǎo)致錄用率下降。

投稿數(shù)量：在特定時期內(nèi)，若大量研究者集中向某期刊投稿，會導(dǎo)致稿件堆積，錄用率下降。

SCI期刊的錄用率受多重因素影響，作者應(yīng)根據(jù)自身研究特點選擇合適的期刊，并確保稿件質(zhì)量以提高錄用機會，投稿前務(wù)必仔細閱讀期刊的投稿指南，并與雜志社保持良好溝通。

《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》雜志簡介

中文簡稱：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
國際標準簡稱：IEEE T DEVICE MAT RE
出版商：Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版周期：Quarterly
出版年份：2001年
出版地區(qū)：UNITED STATES
ISSN：1530-4388
ESSN：1558-2574
研究方向：工程技術(shù) - 工程：電子與電氣

出版物的范圍包括但不限于以下方面的可靠性：設(shè)備、材料、工藝、接口、集成微系統(tǒng)（包括 MEMS 和傳感器）、晶體管、技術(shù)（CMOS、BiCMOS 等）、集成電路（IC、SSI、MSI、LSI、ULSI、ELSI 等）、薄膜晶體管應(yīng)用。從概念階段到研發(fā)再到制造規(guī)模，在每個階段對這些實體的可靠性進行測量和理解，為成功將產(chǎn)品推向市場提供了設(shè)備、材料、工藝、封裝和其他必需品的可靠性的整體數(shù)據(jù)庫。這個可靠性數(shù)據(jù)庫是滿足客戶期望的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品的基礎(chǔ)。這樣開發(fā)的產(chǎn)品具有高可靠性。高質(zhì)量將實現(xiàn)，因為產(chǎn)品弱點將被發(fā)現(xiàn)（根本原因分析）并在最終產(chǎn)品中設(shè)計出來。這個不斷提高可靠性和質(zhì)量的過程將產(chǎn)生卓越的產(chǎn)品。歸根結(jié)底，可靠性和質(zhì)量不是一回事；但從某種意義上說，我們可以做或必須做一切事情來保證產(chǎn)品在客戶條件下在現(xiàn)場成功運行。我們的目標是抓住這些進步。另一個目標是關(guān)注電子材料和設(shè)備可靠性的最新進展，并提供對影響可靠性的基本現(xiàn)象的基本理解。此外，該出版物還是可靠性跨學科研究的論壇。總體目標是提供前沿/最新信息，這些信息與可靠產(chǎn)品的創(chuàng)造至關(guān)重要。

在中科院分區(qū)表中，大類學科為工程技術(shù)3區(qū)， 小類學科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣3區(qū)。

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