《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志好發表嗎？
來源：優發表網整理 2024-09-18 11:00:12 249人看過
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志是一本專注于工程技術領域的期刊，發表難度因多種因素而異，以下是具體分析：
《電子測試：理論與應用雜志》是傳播電子測試領域研究和應用信息的國際論壇。這是唯一一本專門針對電子測試的雜志。《電子測試：理論與應用雜志》上發表的論文經過同行評審，以確保原創性、及時性和相關性。該雜志提供檔案材料，并通過其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業人員。雖然它強調發表珍貴的未發表材料，但需要更廣泛曝光的優秀會議論文，只要符合該雜志的同行評審標準，編輯也會酌情發表。 《電子測試：理論與應用雜志》還尋求清晰的調查和評論文章，以促進對最新技術的更好理解。
《電子測試：理論與應用雜志》的報道包括但不限于以下主題：
VLSI 設備印刷電路板和電子系統的測試；
模擬和數字電子電路的測試；
微處理器、存儲器和信號處理設備的測試；
故障建模；
測試生成；
故障模擬；
可測試性分析；
可測試性設計；
可測試性綜合；
內置自測試；
測試規范；
容錯；
形式驗證硬件；
驗證模擬；
設計調試；
測試和診斷的人工智能方法和專家系統；
自動測試設備（ATE）；
測試夾具；
電子束測試系統；
測試編程；
測試數據分析；
測試經濟性；
質量和可靠性；
CAD 工具；
晶圓級集成器件測試；
可靠系統測試；
制造良率和良率改進設計；
故障模式分析和工藝改進
發表難度
影響因子與分區：《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志的影響因子為1.1，屬于JCR分區Q4區，中科院分區中大類學科工程技術為4區， 小類學科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣為4區，較高的影響因子和較好的分區表明其在學術界具有較高的影響力和認可度，因此對稿件的質量要求也相對較高，發表難度較大。
歷年IF值(影響因子)：
WOS分區（數據版本：2023-2024年最新版）
| 按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 278 / 352 |
21.2% |
| 按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 293 / 354 |
17.37% |
名詞解釋：
WOS即Web of Science，是全球獲取學術信息的重要數據庫，Web of Science包括自然科學、社會科學、藝術與人文領域的信息，來自全世界近9,000種最負盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學術會議多學科內容。給期刊分區時會按照某一個學科領域劃分，根據這一學科所有按照影響因子數值降序排名，然后平均分成4等份，期刊影響因子值高的就會在高分區中，最后的劃分結果分別是Q1，Q2，Q3，Q4，Q1代表質量最高。
審稿周期預計：平均審稿速度 較慢,6-12周 ，審稿周期也體現了編輯部對稿件質量的嚴格把關。
發表建議
提高稿件質量：確保研究內容具有創新性和學術價值，語言表達清晰準確，符合雜志工程：電子與電氣的格式和要求。
提前準備：根據審稿周期，建議作者提前規劃好研究和寫作進度，以便有足夠的時間進行修改和補充。同時，可以關注《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志的約稿信息，如果能夠獲得約稿機會，發表的可能性會更大。
聲明：以上內容來源于互聯網公開資料，如有不準確之處，請聯系我們進行修改。
