發(fā)表《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志多久能被SCI數(shù)據(jù)庫(kù)收錄？
來(lái)源：優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 11:00:12 249人看過(guò)
通常情況下，《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志發(fā)表的文章被SCIE數(shù)據(jù)庫(kù)收錄的時(shí)間沒(méi)有固定標(biāo)準(zhǔn)，若想了解詳細(xì)、準(zhǔn)確的具體情況，建議直接與雜志社取得聯(lián)系或者向在線客服進(jìn)行咨詢。
多久能被SCI數(shù)據(jù)庫(kù)一般可以歸納出以下情況：
論文發(fā)表后到在線時(shí)間：SCI論文發(fā)表后，一般需要大約3個(gè)月的時(shí)間才能在期刊官網(wǎng)上線，這是論文初次對(duì)外公開的時(shí)間點(diǎn)。
在線后到數(shù)據(jù)庫(kù)檢索時(shí)間：論文在線后，通常還需要1-3個(gè)月的時(shí)間才能在Web of Science（WOS）數(shù)據(jù)庫(kù)中檢索到，這個(gè)過(guò)程被稱為論文的索引或收錄。
整體時(shí)間周期：從投稿到論文被SCI數(shù)據(jù)庫(kù)收錄，整個(gè)周期大概需要一年左右的時(shí)間。具體來(lái)說(shuō)，投稿后可能需要5-6個(gè)月收到接收通知，然后經(jīng)過(guò)2-3個(gè)月論文會(huì)在官網(wǎng)上線，再之后2-3個(gè)月論文會(huì)被WOS數(shù)據(jù)庫(kù)收錄。
然而，這個(gè)時(shí)間周期并不是絕對(duì)的，它受到多種因素的影響，如：期刊類型、論文質(zhì)量、數(shù)據(jù)庫(kù)更新等。
《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志已被SCIE國(guó)際知名數(shù)據(jù)庫(kù)收錄，在JCR分區(qū)中位于ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC學(xué)科Q4區(qū)，在CiteScore評(píng)價(jià)中位于Engineering學(xué)科的Q3區(qū)具有較高的學(xué)術(shù)影響力，在該領(lǐng)域受到廣泛認(rèn)可。
WOS分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2023-2024年最新版）
| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 278 / 352 |
21.2% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 293 / 354 |
17.37% |
名詞解釋：
WOS即Web of Science，是全球獲取學(xué)術(shù)信息的重要數(shù)據(jù)庫(kù)，Web of Science包括自然科學(xué)、社會(huì)科學(xué)、藝術(shù)與人文領(lǐng)域的信息，來(lái)自全世界近9,000種最負(fù)盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學(xué)術(shù)會(huì)議多學(xué)科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時(shí)會(huì)按照某一個(gè)學(xué)科領(lǐng)域劃分，根據(jù)這一學(xué)科所有按照影響因子數(shù)值降序排名，然后平均分成4等份，期刊影響因子值高的就會(huì)在高分區(qū)中，最后的劃分結(jié)果分別是Q1，Q2，Q3，Q4，Q1代表質(zhì)量最高。
CiteScore分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2024年最新版）
| CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore排名 | ||||||||
| 2 | 0.271 | 0.518 |
|
名詞解釋：
CiteScore：衡量期刊所發(fā)表文獻(xiàn)的平均受引用次數(shù)。
SJR:SCImago 期刊等級(jí)衡量經(jīng)過(guò)加權(quán)后的期刊受引用次數(shù)。引用次數(shù)的加權(quán)值由施引期刊的學(xué)科領(lǐng)域和聲望 (SJR) 決定。
SNIP:每篇文章中來(lái)源出版物的標(biāo)準(zhǔn)化影響將實(shí)際受引用情況對(duì)照期刊所屬學(xué)科領(lǐng)域中預(yù)期的受引用情況進(jìn)行衡量。
作為一本專注于工程：電子與電氣 - 工程技術(shù)領(lǐng)域的學(xué)術(shù)期刊，它致力于發(fā)表高質(zhì)量的研究論文和為相關(guān)領(lǐng)域的研究人員提供重要的學(xué)術(shù)資源。
該雜志出版周期是Bimonthly，平均審稿速度預(yù)計(jì)為： 較慢,6-12周 。
《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》是傳播電子測(cè)試領(lǐng)域研究和應(yīng)用信息的國(guó)際論壇。這是唯一一本專門針對(duì)電子測(cè)試的雜志。《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》上發(fā)表的論文經(jīng)過(guò)同行評(píng)審，以確保原創(chuàng)性、及時(shí)性和相關(guān)性。該雜志提供檔案材料，并通過(guò)其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業(yè)人員。雖然它強(qiáng)調(diào)發(fā)表珍貴的未發(fā)表材料，但需要更廣泛曝光的優(yōu)秀會(huì)議論文，只要符合該雜志的同行評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)，編輯也會(huì)酌情發(fā)表。 《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》還尋求清晰的調(diào)查和評(píng)論文章，以促進(jìn)對(duì)最新技術(shù)的更好理解。
《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》的報(bào)道包括但不限于以下主題：
VLSI 設(shè)備印刷電路板和電子系統(tǒng)的測(cè)試；
模擬和數(shù)字電子電路的測(cè)試；
微處理器、存儲(chǔ)器和信號(hào)處理設(shè)備的測(cè)試；
故障建模；
測(cè)試生成；
故障模擬；
可測(cè)試性分析；
可測(cè)試性設(shè)計(jì)；
可測(cè)試性綜合；
內(nèi)置自測(cè)試；
測(cè)試規(guī)范；
容錯(cuò)；
形式驗(yàn)證硬件；
驗(yàn)證模擬；
設(shè)計(jì)調(diào)試；
測(cè)試和診斷的人工智能方法和專家系統(tǒng)；
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）；
測(cè)試夾具；
電子束測(cè)試系統(tǒng)；
測(cè)試編程；
測(cè)試數(shù)據(jù)分析；
測(cè)試經(jīng)濟(jì)性；
質(zhì)量和可靠性；
CAD 工具；
晶圓級(jí)集成器件測(cè)試；
可靠系統(tǒng)測(cè)試；
制造良率和良率改進(jìn)設(shè)計(jì)；
故障模式分析和工藝改進(jìn)
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