《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志投稿后多久回復取決于雜志審稿速度：預計 較慢,6-12周 。投稿前請仔細閱讀相關投稿須知，有任何疑問可以聯(lián)系雜志社或咨詢在線客服。

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志于1990年創(chuàng)刊，刊號為ISSN：0923-8174，EISSN：1573-0727，是一本專注于工程：電子與電氣 - 工程技術領域的SCIE期刊，出版周期為：Bimonthly，目前未開放OA（未開放訪問）。主要發(fā)表由專家撰寫的簡短且易于理解的文章，內(nèi)容精煉且具有較高的學術價值，特別適合那些希望快速了解某一特定研究方向最新進展的讀者。

《電子測試：理論與應用雜志》是傳播電子測試領域研究和應用信息的國際論壇。這是唯一一本專門針對電子測試的雜志。《電子測試：理論與應用雜志》上發(fā)表的論文經(jīng)過同行評審，以確保原創(chuàng)性、及時性和相關性。該雜志提供檔案材料，并通過其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業(yè)人員。雖然它強調(diào)發(fā)表珍貴的未發(fā)表材料，但需要更廣泛曝光的優(yōu)秀會議論文，只要符合該雜志的同行評審標準，編輯也會酌情發(fā)表。 《電子測試：理論與應用雜志》還尋求清晰的調(diào)查和評論文章，以促進對最新技術的更好理解。

《電子測試：理論與應用雜志》的報道包括但不限于以下主題：

VLSI 設備印刷電路板和電子系統(tǒng)的測試；

模擬和數(shù)字電子電路的測試；

微處理器、存儲器和信號處理設備的測試；

故障建模；

測試生成；

故障模擬；

可測試性分析；

可測試性設計；

可測試性綜合；

內(nèi)置自測試；

測試規(guī)范；

容錯；

形式驗證硬件；

驗證模擬；

設計調(diào)試；

測試和診斷的人工智能方法和專家系統(tǒng)；

自動測試設備（ATE）；

測試夾具；

電子束測試系統(tǒng)；

測試編程；

測試數(shù)據(jù)分析；

測試經(jīng)濟性；

質(zhì)量和可靠性；

CAD 工具；

晶圓級集成器件測試；

可靠系統(tǒng)測試；

制造良率和良率改進設計；

故障模式分析和工藝改進

在收錄情況方面，《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志在中科院最新升級版分區(qū)表中，該雜志分區(qū)信息為大類學科工程技術4區(qū)，影響因子為1.1，CiteScore為2，在工程：電子與電氣 - 工程技術領域的排名較為靠前，其 SJR為 0.271，SNIP為0.518，h-index指數(shù)為31，這些數(shù)據(jù)都反映出期刊在學術界具有較高的影響力和學術價值。

投稿SCI期刊后收到回復的時間因多種因素而異，具體時間如下：

初審階段：編輯初審通常在1-4周內(nèi)完成，主要檢查論文的格式、規(guī)范性以及是否符合期刊的基本要求。

同行評審階段：若論文通過初審，編輯會將其發(fā)送給多位同行評審人進行詳細評估。這一階段是整個審稿過程中最耗時的部分，通常需要1-3個月。

終審階段：編輯在得到審稿人的反饋后，會根據(jù)審稿人的意見給出接收、小修、大修、拒稿等結(jié)果。這一階段的時間相對較短，通常在收到審稿意見后幾天到一周內(nèi)完成。

投稿者在選擇期刊時，應考慮到審稿周期，并做好長期等待的準備，同時也要注意不同期刊的具體要求和效率可能大相徑庭。

聲明：以上內(nèi)容來源于互聯(lián)網(wǎng)公開資料，如有不準確之處，請聯(lián)系我們進行修改。