《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志在中科院分區中的情況如下：大類學科：工程技術， 分區：4區； 小類學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣， 分區：4區。

中科院分區決定了SCI期刊在學術界的地位和影響力，對科研人員和學術機構具有重要的參考價值，具體如下：

對SCI期刊的評價：中科院分區通過將SCI期刊按照3年平均影響因子劃分為不同的等級，為科研人員和學術機構提供了一個評估SCI期刊學術影響力的重要依據。分區越高，說明該期刊在學科內的學術影響力越大，發表的文章質量越高。

對科研人員的成果評估：科研人員發表的論文所在的中科院分區，可以作為評估其研究成果質量的一個指標。

對科研資源的分配：中科院分區在科研資源分配方面也起到重要作用。科研機構在制定科研政策、分配科研資源時，會參考中科院分區。

對科研人員投稿的指導：中科院分區為科研人員選擇投稿期刊提供了參考。科研人員在選擇投稿期刊時，會參考中科院分區，以提高論文被接受的可能性，并增加研究成果的影響力。

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志是一本專注于工程：電子與電氣領域的國際期刊，由Springer US?出版，創刊于1990年，出版周期為Bimonthly。

《電子測試：理論與應用雜志》是傳播電子測試領域研究和應用信息的國際論壇。這是唯一一本專門針對電子測試的雜志。《電子測試：理論與應用雜志》上發表的論文經過同行評審，以確保原創性、及時性和相關性。該雜志提供檔案材料，并通過其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業人員。雖然它強調發表珍貴的未發表材料，但需要更廣泛曝光的優秀會議論文，只要符合該雜志的同行評審標準，編輯也會酌情發表。 《電子測試：理論與應用雜志》還尋求清晰的調查和評論文章，以促進對最新技術的更好理解。

《電子測試：理論與應用雜志》的報道包括但不限于以下主題：

VLSI 設備印刷電路板和電子系統的測試；

模擬和數字電子電路的測試；

微處理器、存儲器和信號處理設備的測試；

故障建模；

測試生成；

故障模擬；

可測試性分析；

可測試性設計；

可測試性綜合；

內置自測試；

測試規范；

容錯；

形式驗證硬件；

驗證模擬；

設計調試；

測試和診斷的人工智能方法和專家系統；

自動測試設備（ATE）；

測試夾具；

電子束測試系統；

測試編程；

測試數據分析；

測試經濟性；

質量和可靠性；

CAD 工具；

晶圓級集成器件測試；

可靠系統測試；

制造良率和良率改進設計；

故障模式分析和工藝改進

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志學術影響力具體如下：

在學術影響力方面，IF影響因子為1.1，顯示出其在工程：電子與電氣學領域的學術影響力和認可度。

JCR分區：Q4

按JIF指標學科分區，在學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q4，排名：278 / 352，百分位：21.2%；

按JCI指標學科分區，在學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q4，排名：293 / 354，百分位：17.37%；

《Journal Of Electronic Testing-theory And Applications》雜志的審稿周期預計為：平均審稿速度 較慢,6-12周 ，投稿需滿足English撰寫，期刊注重原創性與學術嚴謹性，明確拒絕抄襲或一稿多投，Gold OA占比：9.56%，這使得更多的研究人員能夠免費獲取和引用這些高質量的研究成果。

該雜志其他關鍵數據：

CiteScore分區（數據版本：2024年最新版）：2，進一步證明了其學術貢獻和影響力。

H指數：31，年發文量：43篇

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