《Microelectronics Reliability》雜志好發表嗎？
來源：優發表網整理 2024-09-18 11:02:32 688人看過
《Microelectronics Reliability》雜志是一本專注于工程技術領域的期刊，發表難度因多種因素而異，以下是具體分析：
《微電子可靠性》致力于傳播微電子設備、電路和系統可靠性的最新研究成果和相關信息，涵蓋材料、工藝和制造、設計、測試和操作等各個方面。該期刊涵蓋以下主題：測量、理解和分析；評估和預測；建模和仿真；方法和緩解。將可靠性與微電子工程其他重要領域（如設計、制造、集成、測試和現場操作）相結合的論文也將受到歡迎，并且特別鼓勵報告該領域和特定應用領域案例研究的實踐論文。
大多數被接受的論文將以研究論文的形式發表，描述重大進展和已完成的工作。回顧普遍感興趣的重要發展主題的論文可能會被接受作為評論論文發表。更初步的緊急通訊和關于當前感興趣的已完成實踐工作的簡短報告可能會被考慮作為研究筆記發表。所有投稿均需經過該領域頂尖專家的同行評審。
發表難度
影響因子與分區：《Microelectronics Reliability》雜志的影響因子為1.6，屬于JCR分區Q3區，中科院分區中大類學科工程技術為4區， 小類學科ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣為4區，較高的影響因子和較好的分區表明其在學術界具有較高的影響力和認可度，因此對稿件的質量要求也相對較高，發表難度較大。
歷年IF值(影響因子)：
WOS分區（數據版本：2023-2024年最新版）
| 按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 239 / 352 |
32.2% |
| 學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 113 / 140 |
19.6% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 131 / 179 |
27.1% |
| 按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 272 / 354 |
23.31% |
| 學科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 114 / 140 |
18.93% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 140 / 179 |
22.07% |
名詞解釋：
WOS即Web of Science，是全球獲取學術信息的重要數據庫，Web of Science包括自然科學、社會科學、藝術與人文領域的信息，來自全世界近9,000種最負盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學術會議多學科內容。給期刊分區時會按照某一個學科領域劃分，根據這一學科所有按照影響因子數值降序排名，然后平均分成4等份，期刊影響因子值高的就會在高分區中，最后的劃分結果分別是Q1，Q2，Q3，Q4，Q1代表質量最高。
審稿周期預計：平均審稿速度 較快,2-4周 約8.3周，審稿周期也體現了編輯部對稿件質量的嚴格把關。
發表建議
提高稿件質量：確保研究內容具有創新性和學術價值，語言表達清晰準確，符合雜志工程：電子與電氣的格式和要求。
提前準備：根據審稿周期，建議作者提前規劃好研究和寫作進度，以便有足夠的時間進行修改和補充。同時，可以關注《Microelectronics Reliability》雜志的約稿信息，如果能夠獲得約稿機會，發表的可能性會更大。
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