發(fā)表《Microelectronics Reliability》雜志多久能被SCI數(shù)據(jù)庫(kù)收錄？
來(lái)源：優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 11:02:32 688人看過(guò)
通常情況下，《Microelectronics Reliability》雜志發(fā)表的文章被SCIE數(shù)據(jù)庫(kù)收錄的時(shí)間沒(méi)有固定標(biāo)準(zhǔn)，若想了解詳細(xì)、準(zhǔn)確的具體情況，建議直接與雜志社取得聯(lián)系或者向在線客服進(jìn)行咨詢。
多久能被SCI數(shù)據(jù)庫(kù)一般可以歸納出以下情況：
論文發(fā)表后到在線時(shí)間：SCI論文發(fā)表后，一般需要大約3個(gè)月的時(shí)間才能在期刊官網(wǎng)上線，這是論文初次對(duì)外公開(kāi)的時(shí)間點(diǎn)。
在線后到數(shù)據(jù)庫(kù)檢索時(shí)間：論文在線后，通常還需要1-3個(gè)月的時(shí)間才能在Web of Science（WOS）數(shù)據(jù)庫(kù)中檢索到，這個(gè)過(guò)程被稱為論文的索引或收錄。
整體時(shí)間周期：從投稿到論文被SCI數(shù)據(jù)庫(kù)收錄，整個(gè)周期大概需要一年左右的時(shí)間。具體來(lái)說(shuō)，投稿后可能需要5-6個(gè)月收到接收通知，然后經(jīng)過(guò)2-3個(gè)月論文會(huì)在官網(wǎng)上線，再之后2-3個(gè)月論文會(huì)被WOS數(shù)據(jù)庫(kù)收錄。
然而，這個(gè)時(shí)間周期并不是絕對(duì)的，它受到多種因素的影響，如：期刊類型、論文質(zhì)量、數(shù)據(jù)庫(kù)更新等。
《Microelectronics Reliability》雜志已被SCIE國(guó)際知名數(shù)據(jù)庫(kù)收錄，在JCR分區(qū)中位于ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC學(xué)科Q3區(qū)NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY學(xué)科Q4區(qū)PHYSICS, APPLIED學(xué)科Q3區(qū)，在CiteScore評(píng)價(jià)中位于Engineering學(xué)科的Q2區(qū)Engineering學(xué)科的Q2區(qū)Engineering學(xué)科的Q3區(qū)Engineering學(xué)科的Q3區(qū)Engineering學(xué)科的Q3區(qū)Engineering學(xué)科的Q3區(qū)具有較高的學(xué)術(shù)影響力，在該領(lǐng)域受到廣泛認(rèn)可。
WOS分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2023-2024年最新版）
| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 239 / 352 |
32.2% |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 113 / 140 |
19.6% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q3 | 131 / 179 |
27.1% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 272 / 354 |
23.31% |
| 學(xué)科：NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY | SCIE | Q4 | 114 / 140 |
18.93% |
| 學(xué)科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 140 / 179 |
22.07% |
名詞解釋：
WOS即Web of Science，是全球獲取學(xué)術(shù)信息的重要數(shù)據(jù)庫(kù)，Web of Science包括自然科學(xué)、社會(huì)科學(xué)、藝術(shù)與人文領(lǐng)域的信息，來(lái)自全世界近9,000種最負(fù)盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學(xué)術(shù)會(huì)議多學(xué)科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時(shí)會(huì)按照某一個(gè)學(xué)科領(lǐng)域劃分，根據(jù)這一學(xué)科所有按照影響因子數(shù)值降序排名，然后平均分成4等份，期刊影響因子值高的就會(huì)在高分區(qū)中，最后的劃分結(jié)果分別是Q1，Q2，Q3，Q4，Q1代表質(zhì)量最高。
CiteScore分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2024年最新版）
| CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore排名 | ||||||||||||||||||||||||||||
| 3.3 | 0.394 | 0.801 |
|
名詞解釋：
CiteScore：衡量期刊所發(fā)表文獻(xiàn)的平均受引用次數(shù)。
SJR:SCImago 期刊等級(jí)衡量經(jīng)過(guò)加權(quán)后的期刊受引用次數(shù)。引用次數(shù)的加權(quán)值由施引期刊的學(xué)科領(lǐng)域和聲望 (SJR) 決定。
SNIP:每篇文章中來(lái)源出版物的標(biāo)準(zhǔn)化影響將實(shí)際受引用情況對(duì)照期刊所屬學(xué)科領(lǐng)域中預(yù)期的受引用情況進(jìn)行衡量。
作為一本專注于工程技術(shù) - 工程：電子與電氣領(lǐng)域的學(xué)術(shù)期刊，它致力于發(fā)表高質(zhì)量的研究論文和為相關(guān)領(lǐng)域的研究人員提供重要的學(xué)術(shù)資源。
該雜志出版周期是Monthly，平均審稿速度預(yù)計(jì)為： 較快,2-4周 約8.3周。
《微電子可靠性》致力于傳播微電子設(shè)備、電路和系統(tǒng)可靠性的最新研究成果和相關(guān)信息，涵蓋材料、工藝和制造、設(shè)計(jì)、測(cè)試和操作等各個(gè)方面。該期刊涵蓋以下主題：測(cè)量、理解和分析；評(píng)估和預(yù)測(cè)；建模和仿真；方法和緩解。將可靠性與微電子工程其他重要領(lǐng)域（如設(shè)計(jì)、制造、集成、測(cè)試和現(xiàn)場(chǎng)操作）相結(jié)合的論文也將受到歡迎，并且特別鼓勵(lì)報(bào)告該領(lǐng)域和特定應(yīng)用領(lǐng)域案例研究的實(shí)踐論文。
大多數(shù)被接受的論文將以研究論文的形式發(fā)表，描述重大進(jìn)展和已完成的工作。回顧普遍感興趣的重要發(fā)展主題的論文可能會(huì)被接受作為評(píng)論論文發(fā)表。更初步的緊急通訊和關(guān)于當(dāng)前感興趣的已完成實(shí)踐工作的簡(jiǎn)短報(bào)告可能會(huì)被考慮作為研究筆記發(fā)表。所有投稿均需經(jīng)過(guò)該領(lǐng)域頂尖專家的同行評(píng)審。
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