《Microelectronics Reliability》雜志在中科院分區中的情況如下：大類學科：工程技術， 分區：4區； 小類學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣， 分區：4區。

中科院分區決定了SCI期刊在學術界的地位和影響力，對科研人員和學術機構具有重要的參考價值，具體如下：

對SCI期刊的評價：中科院分區通過將SCI期刊按照3年平均影響因子劃分為不同的等級，為科研人員和學術機構提供了一個評估SCI期刊學術影響力的重要依據。分區越高，說明該期刊在學科內的學術影響力越大，發表的文章質量越高。

對科研人員的成果評估：科研人員發表的論文所在的中科院分區，可以作為評估其研究成果質量的一個指標。

對科研資源的分配：中科院分區在科研資源分配方面也起到重要作用。科研機構在制定科研政策、分配科研資源時，會參考中科院分區。

對科研人員投稿的指導：中科院分區為科研人員選擇投稿期刊提供了參考。科研人員在選擇投稿期刊時，會參考中科院分區，以提高論文被接受的可能性，并增加研究成果的影響力。

《Microelectronics Reliability》雜志是一本專注于工程：電子與電氣領域的國際期刊，由Elsevier Ltd?出版，創刊于1964年，出版周期為Monthly。

《微電子可靠性》致力于傳播微電子設備、電路和系統可靠性的最新研究成果和相關信息，涵蓋材料、工藝和制造、設計、測試和操作等各個方面。該期刊涵蓋以下主題：測量、理解和分析；評估和預測；建模和仿真；方法和緩解。將可靠性與微電子工程其他重要領域（如設計、制造、集成、測試和現場操作）相結合的論文也將受到歡迎，并且特別鼓勵報告該領域和特定應用領域案例研究的實踐論文。

大多數被接受的論文將以研究論文的形式發表，描述重大進展和已完成的工作。回顧普遍感興趣的重要發展主題的論文可能會被接受作為評論論文發表。更初步的緊急通訊和關于當前感興趣的已完成實踐工作的簡短報告可能會被考慮作為研究筆記發表。所有投稿均需經過該領域頂尖專家的同行評審。

《Microelectronics Reliability》雜志學術影響力具體如下：

在學術影響力方面，IF影響因子為1.6，顯示出其在工程：電子與電氣學領域的學術影響力和認可度。

JCR分區：Q3

按JIF指標學科分區，在學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q3，排名：239 / 352，百分位：32.2%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY中為Q4，排名：113 / 140，百分位：19.6%；PHYSICS, APPLIED中為Q3，排名：131 / 179，百分位：27.1%；

按JCI指標學科分區，在學科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q4，排名：272 / 354，百分位：23.31%；NANOSCIENCE & NANOTECHNOLOGY中為Q4，排名：114 / 140，百分位：18.93%；PHYSICS, APPLIED中為Q4，排名：140 / 179，百分位：22.07%；

《Microelectronics Reliability》雜志的審稿周期預計為：平均審稿速度 較快,2-4周 約8.3周，投稿需滿足English撰寫，期刊注重原創性與學術嚴謹性，明確拒絕抄襲或一稿多投，Gold OA占比：14.36%，這使得更多的研究人員能夠免費獲取和引用這些高質量的研究成果。

該雜志其他關鍵數據：

CiteScore分區（數據版本：2024年最新版）：3.3，進一步證明了其學術貢獻和影響力。

H指數：80，年發文量：310篇

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