《Ieee Design & Test》雜志在中科院分區中的情況如下：大類學科：工程技術， 分區：4區； 小類學科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE計算機：硬件， 分區：4區。

中科院分區決定了SCI期刊在學術界的地位和影響力，對科研人員和學術機構具有重要的參考價值，具體如下：

對SCI期刊的評價：中科院分區通過將SCI期刊按照3年平均影響因子劃分為不同的等級，為科研人員和學術機構提供了一個評估SCI期刊學術影響力的重要依據。分區越高，說明該期刊在學科內的學術影響力越大，發表的文章質量越高。

對科研人員的成果評估：科研人員發表的論文所在的中科院分區，可以作為評估其研究成果質量的一個指標。

對科研資源的分配：中科院分區在科研資源分配方面也起到重要作用。科研機構在制定科研政策、分配科研資源時，會參考中科院分區。

對科研人員投稿的指導：中科院分區為科研人員選擇投稿期刊提供了參考。科研人員在選擇投稿期刊時，會參考中科院分區，以提高論文被接受的可能性，并增加研究成果的影響力。

《Ieee Design & Test》雜志是一本專注于計算機：硬件領域的國際期刊，由IEEE Computer Society?出版，創刊于2013年，出版周期為6 issues/year。

《IEEE 設計與測試》提供原創作品，介紹用于設計和測試微電子系統（從設備和電路到完整的片上系統和嵌入式軟件）的模型、方法和工具。該雜志側重于當前和近期的實踐，包括教程、操作方法文章和真實案例研究。該雜志力求通過專欄、訪談和圓桌討論，向讀者介紹重要的技術進步以及技術領導者的觀點。主題包括半導體 IC 設計、半導體知識產權模塊、設計、驗證和測試技術、制造和產量設計、嵌入式軟件和系統、低功耗和節能設計、電子設計自動化工具、實用技術和標準。

《Ieee Design & Test》雜志學術影響力具體如下：

在學術影響力方面，IF影響因子為1.9，顯示出其在計算機：硬件學領域的學術影響力和認可度。

JCR分區：Q3

按JIF指標學科分區，在學科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE中為Q3，排名：42 / 59，百分位：29.7%；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q3，排名：211 / 352，百分位：40.2%；

按JCI指標學科分區，在學科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE中為Q3，排名：40 / 59，百分位：33.05%；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q3，排名：217 / 354，百分位：38.84%；

《Ieee Design & Test》雜志的審稿周期預計為：平均審稿速度 ，投稿需滿足English撰寫，期刊注重原創性與學術嚴謹性，明確拒絕抄襲或一稿多投，Gold OA占比：6.08%，這使得更多的研究人員能夠免費獲取和引用這些高質量的研究成果。

該雜志其他關鍵數據：

CiteScore分區（數據版本：2024年最新版）：3.8，進一步證明了其學術貢獻和影響力。

H指數：72，年發文量：59篇

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