《Ieee Journal Of The Electron Devices Society》雜志查重率過高能過審嗎？
來源：優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 11:09:39 606人看過
《Ieee Journal Of The Electron Devices Society》雜志查重率過高通常很難過審，論文的重復(fù)率是一個(gè)重要的考量因素，不同的期刊要求不一樣，通常來說，SCI論文查重率一般建議低于15%或者20%以下，投稿都比較安全。總的來說，保持論文的原創(chuàng)性和獨(dú)特性是關(guān)鍵。
該雜志是國(guó)際知名的學(xué)術(shù)出版物，對(duì)論文的原創(chuàng)性和學(xué)術(shù)質(zhì)量有著極高的要求。查重率過高往往被視為學(xué)術(shù)不端行為的一種表現(xiàn)，如抄襲或過度引用他人成果，這嚴(yán)重違反了學(xué)術(shù)誠(chéng)信原則。
如果查重率過高，常會(huì)采取以下措施：
1、直接拒稿：對(duì)于查重率明顯超標(biāo)的論文，SCI期刊往往會(huì)直接拒絕接受其發(fā)表。這是為了保護(hù)學(xué)術(shù)界的原創(chuàng)性和誠(chéng)信，避免抄襲等學(xué)術(shù)不端行為的傳播。
2、要求修改并重審：在某些情況下，如果論文的查重率雖然較高，但其中存在合理的引用和解釋，期刊編輯部可能會(huì)要求作者進(jìn)行修改并重審。然而，這種情況相對(duì)較少，且修改后的論文仍需滿足期刊的原創(chuàng)性要求。
因此，投稿前最好使用專業(yè)查重工具檢測(cè)并優(yōu)化重復(fù)內(nèi)容。
《Ieee Journal Of The Electron Devices Society》雜志（ISSN: 2168-6734，ESSN：2168-6734）是一本專注于Biochemistry, Genetics and Molecular Biology - Biotechnology的國(guó)際SCI期刊，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版，創(chuàng)刊于2013年，出版周期為1 issue/year。
該雜志主要發(fā)表由領(lǐng)域內(nèi)專家撰寫的短篇文章，旨在以簡(jiǎn)明易懂的方式呈現(xiàn)工程：電子與電氣的最新研究進(jìn)展，特別適合尚未深入該領(lǐng)域的科研人員閱讀。
《Ieee Journal Of The Electron Devices Society》雜志在Biochemistry, Genetics and Molecular Biology - Biotechnology領(lǐng)域具有較高的學(xué)術(shù)影響力，最新影響因子為2。
JCR分區(qū)為Q3（ 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū)中學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q3，排名：202 / 352，百分位：42.8%； 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū)中學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q3，排名：179 / 354，百分位：49.58%； ）。
CiteScore為5.2，(CiteScore排名為大類：Materials Science，小類：Electronic, Optical and Magnetic Materials，分區(qū)：Q2，排名：90 / 284，百分位：68%； 大類：Materials Science，小類：Electrical and Electronic Engineering，分區(qū)：Q2，排名：253 / 797，百分位：68%； 大類：Materials Science，小類：Biotechnology，分區(qū)：Q2，排名：139 / 311，百分位：55%； )
《Ieee Journal Of The Electron Devices Society》雜志是一本歷史悠久、聲譽(yù)良好的工程技術(shù)期刊，以其高質(zhì)量、易讀性和前沿性在學(xué)術(shù)界占據(jù)重要地位。
WOS分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2023-2024年最新版）
| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 202 / 352 |
42.8% |
| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 179 / 354 |
49.58% |
名詞解釋：
WOS即Web of Science，是全球獲取學(xué)術(shù)信息的重要數(shù)據(jù)庫(kù)，Web of Science包括自然科學(xué)、社會(huì)科學(xué)、藝術(shù)與人文領(lǐng)域的信息，來自全世界近9,000種最負(fù)盛名的高影響力研究期刊及12,000多種學(xué)術(shù)會(huì)議多學(xué)科內(nèi)容。給期刊分區(qū)時(shí)會(huì)按照某一個(gè)學(xué)科領(lǐng)域劃分，根據(jù)這一學(xué)科所有按照影響因子數(shù)值降序排名，然后平均分成4等份，期刊影響因子值高的就會(huì)在高分區(qū)中，最后的劃分結(jié)果分別是Q1，Q2，Q3，Q4，Q1代表質(zhì)量最高。
CiteScore分區(qū)（數(shù)據(jù)版本：2024年最新版）
| CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore排名 | ||||||||||||||||
| 5.2 | 0.505 | 0.955 |
|
名詞解釋：
CiteScore：衡量期刊所發(fā)表文獻(xiàn)的平均受引用次數(shù)。
SJR:SCImago 期刊等級(jí)衡量經(jīng)過加權(quán)后的期刊受引用次數(shù)。引用次數(shù)的加權(quán)值由施引期刊的學(xué)科領(lǐng)域和聲望 (SJR) 決定。
SNIP:每篇文章中來源出版物的標(biāo)準(zhǔn)化影響將實(shí)際受引用情況對(duì)照期刊所屬學(xué)科領(lǐng)域中預(yù)期的受引用情況進(jìn)行衡量。
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