《Iet Circuits Devices & Systems》雜志是一本專注于工程技術領域的高質量期刊，該雜志的錄用率受多種因素影響，想具體了解可聯系雜志社或咨詢在線客服。

《Iet Circuits Devices & Systems》雜志的錄用率受多種因素影響，具體如下：

年發文量：《Iet Circuits Devices & Systems》雜志年發文量為：26篇。年發文量較大的期刊，相對而言錄用率會高一些。

質量與創新性：論文的科學性、嚴謹性、數據可靠性以及創新性是關鍵。

期刊分區：《Iet Circuits Devices & Systems》雜志在中科院的分區為4區，而在JCR的分區為Q4。

論文質量：包括研究設計的合理性、數據的可靠性、分析方法的科學性等。

影響力與排名：《Iet Circuits Devices & Systems》雜志IF影響因子為：1。高影響力的期刊通常對論文質量要求更高，錄用率相對較低。

審稿流程：嚴格的多輪審稿流程會篩選掉部分稿件，導致錄用率下降。

投稿數量：在特定時期內，若大量研究者集中向某期刊投稿，會導致稿件堆積，錄用率下降。

SCI期刊的錄用率受多重因素影響，作者應根據自身研究特點選擇合適的期刊，并確保稿件質量以提高錄用機會，投稿前務必仔細閱讀期刊的投稿指南，并與雜志社保持良好溝通。

《Iet Circuits Devices & Systems》雜志簡介

中文簡稱：集成電路設備和系統
國際標準簡稱：IET CIRC DEVICE SYST
出版商：Wiley
出版周期：Bi-monthly
出版年份：2007年
出版地區：ENGLAND
ISSN：1751-858X
ESSN：1751-8598
研究方向：工程技術 - 工程：電子與電氣

IET 電路、器件與系統涵蓋以下主題：

電路理論與設計、電路分析與仿真、計算機輔助設計

濾波器（模擬和開關電容器）

電路實現、單元和集成架構（包括 VLSI）

可測試性、容錯設計、電路最小化和 VLSI 的 CAD

用于傳統和新興技術（包括納米電子學和 MEM）的新型或改進電子設備

器件和工藝特性、器件參數提取方案

電路和系統理論的數學

涉及電子電路、工業應用電路、傳感器和換能器的測試和測量技術

在中科院分區表中，大類學科為工程技術4區， 小類學科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣4區。

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