《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》雜志查重率過高通常很難過審，論文的重復率是一個重要的考量因素，不同的期刊要求不一樣，通常來說，SCI論文查重率一般建議低于15%或者20%以下，投稿都比較安全。總的來說，保持論文的原創(chuàng)性和獨特性是關(guān)鍵。

該雜志是國際知名的學術(shù)出版物，對論文的原創(chuàng)性和學術(shù)質(zhì)量有著極高的要求。查重率過高往往被視為學術(shù)不端行為的一種表現(xiàn)，如抄襲或過度引用他人成果，這嚴重違反了學術(shù)誠信原則。

如果查重率過高，常會采取以下措施：

1、直接拒稿：對于查重率明顯超標的論文，SCI期刊往往會直接拒絕接受其發(fā)表。這是為了保護學術(shù)界的原創(chuàng)性和誠信，避免抄襲等學術(shù)不端行為的傳播。

2、要求修改并重審：在某些情況下，如果論文的查重率雖然較高，但其中存在合理的引用和解釋，期刊編輯部可能會要求作者進行修改并重審。然而，這種情況相對較少，且修改后的論文仍需滿足期刊的原創(chuàng)性要求。

因此，投稿前最好使用專業(yè)查重工具檢測并優(yōu)化重復內(nèi)容。

《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》雜志（ISSN: 1063-8210，ESSN：1557-9999）是一本專注于工程技術(shù) - 工程：電子與電氣的國際SCI期刊，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版，創(chuàng)刊于1993年，出版周期為Bimonthly。

該雜志主要發(fā)表由領(lǐng)域內(nèi)專家撰寫的短篇文章，旨在以簡明易懂的方式呈現(xiàn)計算機：硬件的最新研究進展，特別適合尚未深入該領(lǐng)域的科研人員閱讀。

《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》雜志在工程技術(shù) - 工程：電子與電氣領(lǐng)域具有較高的學術(shù)影響力，最新影響因子為2.8。

JCR分區(qū)為Q2（ 按JIF指標學科分區(qū)中學科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE中為Q2，排名：23 / 59，百分位：61.9%；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q2，排名：151 / 352，百分位：57.2%； 按JCI指標學科分區(qū)中學科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE中為Q2，排名：26 / 59，百分位：56.78%；ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC中為Q2，排名：149 / 354，百分位：58.05%； ）。

CiteScore為6.4，(CiteScore排名為大類：Engineering，小類：Electrical and Electronic Engineering，分區(qū)：Q1，排名：195 / 797，百分位：75%； 大類：Engineering，小類：Hardware and Architecture，分區(qū)：Q2，排名：51 / 177，百分位：71%； 大類：Engineering，小類：Software，分區(qū)：Q2，排名：124 / 407，百分位：69%； )

《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》雜志是一本歷史悠久、聲譽良好的工程技術(shù)期刊，以其高質(zhì)量、易讀性和前沿性在學術(shù)界占據(jù)重要地位。