《Journal Of Electron Spectroscopy And Related Phenomena》雜志的收稿范圍和要求是什么？
來源：優發表網整理 2024-09-18 11:00:12 331人看過
《Journal Of Electron Spectroscopy And Related Phenomena》雜志收稿范圍涵蓋物理與天體物理全領域，此刊是該細分領域中屬于非常不錯的SCI期刊，在行業細分領域中學術影響力較大，專業度認可很高，所以對原創文章要求創新性較高，如果您的文章質量很高，可以嘗試。
平均審稿速度 較慢,6-12周 ，影響因子指數1.8。
該期刊近期沒有被列入國際期刊預警名單，廣大學者值得一試。
具體收稿要求需聯系雜志社或者咨詢本站客服，在線客服團隊會及時為您答疑解惑，提供針對性的建議和解決方案。
出版商聯系方式：ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, AMSTERDAM, NETHERLANDS, 1000 AE
其他數據
| 是否OA開放訪問： | h-index： | 年文章數： |
| 未開放 | 80 | 74 |
| Gold OA文章占比： | 2021-2022最新影響因子（數據來源于搜索引擎）: | 開源占比（OA被引用占比）： |
| 27.69% | 1.8 | 0.18... |
| 研究類文章占比：文章 ÷（文章 + 綜述） | 期刊收錄： | 中科院《國際期刊預警名單（試行）》名單： |
| 98.65% | SCIE | 否 |
歷年IF值(影響因子)：
歷年引文指標和發文量：
歷年中科院JCR大類分區數據：
歷年自引數據：
發文統計
2023-2024國家/地區發文量統計：
| 國家/地區 | 數量 |
| USA | 39 |
| CHINA MAINLAND | 31 |
| GERMANY (FED REP GER) | 30 |
| India | 28 |
| Japan | 26 |
| Italy | 19 |
| Russia | 15 |
| Sweden | 15 |
| France | 13 |
| Poland | 12 |
2023-2024機構發文量統計：
| 機構 | 數量 |
| UNITED STATES DEPARTMENT OF ENER... | 12 |
| CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 11 |
| CONSIGLIO NAZIONALE DELLE RICERC... | 9 |
| TECHNISCHE UNIVERSITAT WIEN | 9 |
| CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE ... | 8 |
| HELMHOLTZ ASSOCIATION | 8 |
| UPPSALA UNIVERSITY | 8 |
| CZECH ACADEMY OF SCIENCES | 7 |
| HUNAN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY | 7 |
| UNIVERSITY OF DELHI | 7 |
近年引用統計：
| 期刊名稱 | 數量 |
| J ELECTRON SPECTROSC | 148 |
| PHYS REV A | 148 |
| PHYS REV LETT | 132 |
| PHYS REV B | 131 |
| J PHYS B-AT MOL OPT | 110 |
| J CHEM PHYS | 102 |
| SURF INTERFACE ANAL | 91 |
| APPL SURF SCI | 56 |
| SURF SCI | 54 |
| ATOM DATA NUCL DATA | 51 |
近年被引用統計：
| 期刊名稱 | 數量 |
| J PHYS CHEM C | 181 |
| PHYS REV B | 154 |
| J CHEM PHYS | 151 |
| PHYS CHEM CHEM PHYS | 151 |
| J ELECTRON SPECTROSC | 148 |
| APPL SURF SCI | 139 |
| ACS APPL MATER INTER | 89 |
| PHYS REV A | 79 |
| J PHYS CHEM A | 69 |
| SURF INTERFACE ANAL | 64 |
近年文章引用統計：
| 文章名稱 | 數量 |
| XPS in industry-Problems with bi... | 15 |
| Chemical bonding in carbide MXen... | 14 |
| Chemical surface analysis on mat... | 11 |
| Imaging XPS for industrial appli... | 10 |
| Automated electron-optical syste... | 10 |
| Electronic and magnetic properti... | 9 |
| Reliable absorbance measurement ... | 9 |
| Electronic properties of composi... | 8 |
| Investigation of local geometric... | 6 |
| Effect of argon sputtering on XP... | 6 |
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