《Microelectronics Journal》雜志是一本專注于工程技術領域的高質量期刊，該雜志的錄用率受多種因素影響，想具體了解可聯系雜志社或咨詢在線客服。

《Microelectronics Journal》雜志的錄用率受多種因素影響，具體如下：

年發文量：《Microelectronics Journal》雜志年發文量為：293篇。年發文量較大的期刊，相對而言錄用率會高一些。

質量與創新性：論文的科學性、嚴謹性、數據可靠性以及創新性是關鍵。

期刊分區：《Microelectronics Journal》雜志在中科院的分區為3區，而在JCR的分區為Q3。

論文質量：包括研究設計的合理性、數據的可靠性、分析方法的科學性等。

影響力與排名：《Microelectronics Journal》雜志IF影響因子為：1.9。高影響力的期刊通常對論文質量要求更高，錄用率相對較低。

審稿流程：嚴格的多輪審稿流程會篩選掉部分稿件，導致錄用率下降。

投稿數量：在特定時期內，若大量研究者集中向某期刊投稿，會導致稿件堆積，錄用率下降。

SCI期刊的錄用率受多重因素影響，作者應根據自身研究特點選擇合適的期刊，并確保稿件質量以提高錄用機會，投稿前務必仔細閱讀期刊的投稿指南，并與雜志社保持良好溝通。

《Microelectronics Journal》雜志簡介

中文簡稱：微電子雜志
國際標準簡稱：MICROELECTRON J
出版商：Elsevier
出版周期：Monthly
出版年份：1967年
出版地區：ENGLAND
ISSN：0026-2692
ESSN：1879-2391
研究方向：工程技術 - 工程：電子與電氣

《微電子學雜志》自 1969 年創刊以來，是一個傳播微電子系統、電路和新興技術研究和應用的國際論壇。《微電子學雜志》上發表的論文都經過同行評審，以確保其原創性、相關性和時效性。因此，該雜志提供了有關微電子電路和系統的全球定期全面更新。

《微電子學雜志》誠邀撰寫描述以下所有領域重要研究和應用的論文。涵蓋最新發展的綜合評論/調查論文也將予以考慮。《微電子學雜志》涵蓋電路和系統。該主題包括但不限于：模擬、數字、混合和射頻電路及相關設計方法；邏輯、架構和系統級綜合；測試、可測試性設計、內置自測試；面積、功率和熱分析與設計；混合域仿真與設計；嵌入式系統；非馮諾依曼計算及相關技術和電路；高復雜度系統集成的設計和測試； SoC、NoC、SIP 和 NIP 設計和測試；3-D 集成設計和分析；新興器件技術和電路，如 FinFET、SET、自旋電子學、SFQ、MTJ 等。

也歡迎應用方面，例如信號和圖像處理（包括密碼電路）、傳感器和執行器（包括傳感器網絡）、可靠性和質量問題以及經濟模型。

在中科院分區表中，大類學科為工程技術3區， 小類學科為ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC工程：電子與電氣3區。

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