X射線照相技術(shù)的檢測參數(shù)系統(tǒng)全景設(shè)計
作者：劉小明; 韓壯壯; 申國慶; 杜建國; 魏錦濤 山西航天清華裝備有限責任公司; 長治046012
摘要：根據(jù)X射線照相曝光曲線的技術(shù)特點,形成了X射線照相技術(shù)的檢測參數(shù)系統(tǒng)全景設(shè)計。在全景設(shè)計圖上可以進行設(shè)備的選用及性能比較,確定具體的透照參數(shù),預設(shè)底片黑度結(jié)果,明確具體工藝的影像清晰度。提出了'球錐場'與'圓錐場'結(jié)合的分析方法,以全景設(shè)計圖為基礎(chǔ)可以開發(fā)檢測參數(shù)分析軟件,實現(xiàn)不同厚度工件的組合檢測。
注：因版權(quán)方要求，不能公開全文，如需全文，請咨詢雜志社。
無損檢測雜志
無損檢測雜志， 月刊，本刊重視學術(shù)導向，堅持科學性、學術(shù)性、先進性、創(chuàng)新性，刊載內(nèi)容涉及的欄目：科研成果及學術(shù)論文、試驗研究、綜述、實踐經(jīng)驗、儀器動態(tài)、標準化、儀器方法、專題綜述等。于1978年經(jīng)新聞總署批準的正規(guī)刊物。
- 統(tǒng)計源期刊
- 1-3個月審核
