基于深搜算法的手機外殼刮擦痕跡檢測
作者:欒松宇; 周文舉; 孔清清; 郭鵬; 徐宗鑫 魯東大學信息與電氣工程學院; 山東煙臺264039
摘要:運用形態學濾波算法和白適應二值化算法對手機外殼圖像進行預處理,同時提出了一種深搜算法,沿著手機外殼刮痕的方向進行搜索,增加了檢測的魯俸性和敏感性,在具有復雜表面紋理干擾的情況下仍然能夠有效地對手機外殼微小刮痕進行檢測.經過實驗驗證,刮痕檢測精度可以達到0.05mm,漏檢率和輪廓檢測缺失概率分別為4.0%和5.3%.
注:因版權方要求,不能公開全文,如需全文,請咨詢雜志社。