摘要：通過等通道角擠壓(ECAP)的方法制備了超細(xì)晶純Ti,利用EBSD技術(shù)研究了2~4道次樣品晶粒尺寸、基面織構(gòu)強(qiáng)度和大小角度晶界的變化規(guī)律。同時(shí),采用動(dòng)電位極化和EIS的方法研究不同晶粒尺寸樣品的耐模擬海水腐蝕性能。結(jié)果表明:經(jīng)過2道次ECAP,原始粗晶純Ti的晶粒尺寸和基面織構(gòu)強(qiáng)度減小,小角度晶界分?jǐn)?shù)急劇增加。隨著擠壓道次的增加,純Ti的晶粒尺寸繼續(xù)減小,基面織構(gòu)強(qiáng)度先增大后減少,小角度晶界分?jǐn)?shù)逐漸降低。相比于原始粗晶純Ti,所有ECAP制備的超細(xì)晶純Ti的腐蝕電流密度和腐蝕速率明顯降低,極化電阻增大,表現(xiàn)出更加優(yōu)異的耐海水腐蝕性能。另一方面,隨著ECAP道次的增加,純Ti的耐海水腐蝕性能并不是呈單調(diào)增加的關(guān)系,3道次試樣的耐腐蝕性能最優(yōu),這主要?dú)w因于晶粒尺寸、基面織構(gòu)和晶界特征分布的耦合影響,其中基面織構(gòu)強(qiáng)度的影響占據(jù)主導(dǎo)地位。